The store will not work correctly when cookies are disabled.
Verwendung von Cookies
Um unsere Webseite für Sie optimal zu gestalten und fortlaufend verbessern zu können, verwenden wir Cookies.
Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie der Verwendung von Cookies zu. Mehr Informationen finden Sie in unserer Datenschutzerklärung
Cookie-Einstellungen
Mit welcher Art von Cookies sind Sie einverstanden?
Marketing Cookies
Diese Cookies werden von Werbeagenturen verwendet, um Ihnen Werbung zu unterbreiten, die für Ihre Interessen relevant ist.
Funktionelle Cookies
Diese Cookies ermöglichen uns die Analyse der Website-Nutzung, damit wir deren Leistung messen und verbessern können.
Erforderliche Cookies
Diese Cookies sind für die grundlegenden Funktionen der Website erforderlich.
In the decades since it was first used to examine works of art and archaeological pieces, scanning electron microscopy (SEM) has become an essential tool in any museum or gallery laboratory, allowing details of the surface and the way in which it has been modified – for example by manufacturing or during conservation – to be scrutinised. The possibility of applying microanalytical methods within the scanning electron microscope, most notably energy dispersive X-ray (EDX) analysis, has greatly increased the versatility of the technique, making it indispensable in the study of materials.