Nigel Meeks, Caroline Cartwright, Andrew Meek, Aude Mongiatti: Historical Technology, Materials and Conservation

Artikelnummer
9600712
63,79 € 60,75 €
Grundpreis: 60,75 € / 1 St zzgl. 5 % MwSt. (Alle Preise zzgl. Versand)
Verfügbarkeit:
2 - 3 Tage
Gewicht: 0,8300 kg
Wunschliste auswählen:
Bitte wählen Sie eine Wunschliste aus oder erstellen Sie eine hier
Projekt auswählen:
Bitte wählen Sie ein Projekt aus oder erstellen Sie eines hier

Nigel Meeks, Caroline Cartwright, Andrew Meek, Aude Mongiatti: Historical Technology, Materials and Conservation.

Scanning Electron Microscopy (SEM) and Microanalysis in conservation.

2012, 224 pages.

SEM and Microanalysis

In the decades since it was first used to examine works of art and archaeological pieces, scanning electron microscopy (SEM) has become an essential tool in any museum or gallery laboratory, allowing details of the surface and the way in which it has been modified – for example by manufacturing or during conservation – to be scrutinised. The possibility of applying microanalytical methods within the scanning electron microscope, most notably energy dispersive X-ray (EDX) analysis, has greatly increased the versatility of the technique, making it indispensable in the study of materials.

2012, 224 Seiten, zahlreiche, teils farbige Abbildungen. Broschur.

Weitere Produkte

Folgende Produkte könnten Sie auch interessieren

© Deffner & Johann GmbH